晶振測(cè)試儀使用微處理器技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了智能化測(cè)量。本系列儀器采用倒數(shù)計(jì)數(shù)技術(shù)實(shí)現(xiàn)等精度測(cè)量。它測(cè)量精度高，靈敏度高，速度快，閘門(mén)時(shí)間可選；具有頻率測(cè)量、周期測(cè)量、PPM測(cè)量、分檔測(cè)量、上下限測(cè)量、累加計(jì)數(shù)等功能；中心頻率（標(biāo)稱頻率）F0、分檔值Pr1～Pr8(ppm)、上限頻率FU、下限頻率FL可任意設(shè)定并能存儲(chǔ)。該機(jī)前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。

　　石英晶振諧振器（簡(jiǎn)稱晶振）是為各種振蕩電路或時(shí)間電路提供基準(zhǔn)工作頻率的電子元件。而在電子技術(shù)領(lǐng)域的產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程中，經(jīng)常要用到一種原材料--晶振振蕩器，產(chǎn)品生產(chǎn)完成后，如果晶振不起振將會(huì)影響設(shè)計(jì)功能的實(shí)現(xiàn)，但是，在生產(chǎn)過(guò)程中逐個(gè)測(cè)量晶振頻率所花費(fèi)的人力物力較大，因此人們?cè)O(shè)計(jì)有晶振測(cè)試儀。現(xiàn)有的貼片式晶振測(cè)試儀是由振動(dòng)盤(pán)、晶體軌道以及晶體軌道上的檢測(cè)機(jī)構(gòu)組合而成的，為使單個(gè)晶振依次有序進(jìn)行檢測(cè)，晶體軌道通常設(shè)計(jì)為僅供單個(gè)晶振排序通行，然而在實(shí)際使用當(dāng)中，由于運(yùn)行偏差，晶振很容易被卡在晶體軌道上，使得測(cè)試儀無(wú)法正常運(yùn)轉(zhuǎn)，影響檢測(cè)效率。

　　提供一種晶振測(cè)試儀，包括傾斜設(shè)置的晶體軌道以及設(shè)置在晶體軌道上的檢測(cè)裝置和吹料機(jī)構(gòu)；晶體軌道上還設(shè)有用于單個(gè)晶振依次通行的晶振通槽，晶振通槽的下端與傾斜通槽連通，傾斜通槽的出口與晶振收納室連通；吹料機(jī)構(gòu)的固定座設(shè)置在晶體軌道上，固定座上設(shè)有吹氣頭，吹氣頭對(duì)應(yīng)晶振通槽位置處設(shè)置有吹氣嘴，吹氣頭通過(guò)氣管與外部的氣泵連接；檢測(cè)裝置相對(duì)應(yīng)位置設(shè)置有與晶振通槽交叉連通的分叉通槽，分叉通槽與廢品收集室連通，分叉通槽與晶振通槽相通的一端設(shè)置有用于將其開(kāi)啟或者閉合的閘門(mén)，檢測(cè)裝置上設(shè)有用于將晶振推入分叉通槽的推料機(jī)構(gòu)